Semiconductor Memories: Technology Testing and Reliability

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설명

Provides in depth coverage in the areas of design for testing fault tolerance failure modes and mechanisms and screening and qualification methods including: memory cell structures and fabrication technologies; application specific memories and architectures; and memory design fault modeling and test algorithms limitations and trade offs.
  • 브랜드: John Wiley & Sons Inc
  • 카테고리: Computing & Internet
  • 출판사/레이블: John Wiley & Sons Inc
  • 페이지 수: 480
  • 형식: Hardback
  • 언어: English
  • 출판일: 2022-02-18
  • 저자: Ashok K. Sharma
  • Fruugo ID: 431396868-906085787
  • ISBN: 9780780310001

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