Nanometer Technology Designs High-quality Delay Tests

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Nanometer Technology Designs High-quality Delay Tests

Supply Noise (including Ir-drop, Ground Bounce, And Ldidt) Effects On Chip Performance, High Test Pattern Volume, Low Faultdefect Coverage, Small Delay Defect Test Pattern Generation, High Cost Of Test Implementation And Application, And Utilizing Low-cost Testers Are Among These Challenges.
  • 브랜드: Springer Nature B.V
  • 카테고리: Computing & Internet
  • 출판사/레이블: Springer Nature B.V
  • 페이지 수: 304
  • 형식: Hardcover
  • 언어: English
  • 출판일: 2008-01-16
  • 저자: Mohammad Tehranipoor
  • Fruugo ID: 550925722-1115603932
  • ISBN: 9780387764863
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